半导体行业观察:叠加计量(Overlay metrology)工具可提高精度,同时提供可接受的吞吐量,解决日益复杂的设备中的竞争要求。
FPGA虚拟化技术打破了时间和空间维度的限制,使用户能够轻松的在不同时间,对多个FPGA的各类资源进行充分的调度与使用。