9.2开放日 | 您有一封来自NI Open Lab的邀请函

足不出户吸收干货or现场体验动手实操？

这次 OpenLab Day 的参与姿势由你来定

继第一期的火热与意犹未尽之后，N I OpenLab 第二期活动 将于 8 月 26 日和大家见面啦 ！ 这期 OpenLab Day 中， NI 和孤波专家携 Cypress 、 NXP 精彩应用案例 ，还有 桌面式 ATE 级数字 Pattern 仪器动手实践课程 来到 NI 直播间 。

在这个炎炎夏日，你除了可以选择足不出户在线上与技术专家们 远程交流 ，更可以选择来到 NI 上海办公室 现场参与 OpenLab Day ，顺便还可以参观 Open Lab 哦！赶快扫码报名选择你的参与姿势吧！

注：现场参与地点为 NI 上海办公室，坐标张江高科技园区内，由于场地限制，线下参与名额还请以 报名确认信 为准哦！

9 月 2 日 14:00 ~ 16:15

14:00 ~ 15:00  SoC 和 MCU 数字接口验证及 Cypress 、 NXP 案例分析

15:00 ~ 16:00 桌面式 ATE 级数字 Pattern 仪器验证动手实践

16:00 ~ 16:15 技术答疑及抽奖

Topic 1: SoC 和 MCU 数字接口验证及 Cypress 、 NXP 案例分析

NI & 孤波

概述： 随着芯片应用场景的多变，更多设计公司采用集成 IP 的方式进行功能整合，这样更好地利用成熟 IP ，如电源管理、 ADC 、数字接口等，这样可大幅缩短芯片设计周期，新品上市时间也将大幅提前 ，产品形态也将更加的多样。但是如何在流片后的早期样片上发现漏洞并地进行特性分析，如何使用 更加高效的方法进行验证。本次直播活动， NI 携手合作伙伴为各位现场解析案例，看看 NI 及合作伙伴是如何帮助 SoC 及 MCU 企业进行高效 post-silicon 验证的。

Topic 2 : 桌面式 ATE 级数字 Pattern 仪器验证动手实践

NI

概述： 在实验室验证阶段使用大型的 A TE 进行 S hmoo 、时序的验证并不是一个成本最优的方案，而使用传统的测试测量仪器又无法很好提供相对应的功能， N I 基于这一需求所设计的基于向量的数字 P attern 仪器将使用紧凑型的 P XI 结构，在实验室的环境中即可满足传统 A TE 的向量调试和 D ebug ， Scan Pattern 调试等工作；同时搭配模拟和接口 P XI 仪器，实现针对接口的功能级、系统级的验证工作。

想具体了解 PXI 数字 Pattern 仪器的强大功能么？在我们这一期 OpenLab Day ， 资深应用工程师会为大家进行现场动手实践与分享哦。

王孜

上海孤波科技有限公司资深应用工程师

王孜在 RF 原型开发与自动化测试领域有丰富经验， 2019 年加入上海孤波科技有限公司，目前主要负责实验室自动化测试的标准化与推广工作。

白爽

NI 半导体测试应用工程师

大客户支持工程师，分选机通讯专家，熟悉半导体产线测试开发及维护，致力于半导体模块化测试解决方案的研究。

足不出户吸收干货or现场体验动手实操？

赶快选择你喜欢的参与形式报名参加活动吧！

注：现场参与地点为 NI 上海办公室 ，坐标张江高科技园区内，由于场地限制，线下参与名额还请以 报名确认信 为准哦！

戳阅读原文也可以报名 ~

NI IC 开放实验室 是 NI 在中国建立的第一个完全面向客户开放的测试实验室，实验室旨在为业界：

- 提供开放的交流平台，通过主题开放日等活动与工程师交流芯片测试技术

- 作为 NI半导体实验室测试体验中心，通过预约开放给工程师进行体验及实操

- 作为 NI 与合作伙伴为工程师提供远程及现场的专业测试平台及服务的桥梁

NI IC 开放实验室在 NI 上海办公室设有针对 5G ， Wifi 等的射频芯片测试台， ADC/DAC ， PMIC 以及高性能数字验证等混合信号测试台。将为工程师提供预约通道，进行远程或现场体验及实操，携手广大工程师助力芯片测试技术发展。

今天是《半导体行业观察》为您分享的第2414期内容，欢迎关注。

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