FinFET之父往事
那是1995年。芯片技术一直遵循摩尔定律飞速发展,摩尔定律指出,由于晶体管的尺寸不断缩小,芯片上晶体管的数量大约每两年就会翻一番。
然而地平线似乎不再无限。的确,这是第一次,整个半导体行业都在悄然预言摩尔定律的终结。当一个关键晶体管的尺寸从350纳米缩小到不足100纳米时,这就暗示了黄金时代将结束。就连美国政府也忧心忡忡——美国国防部高级研究计划局(DARPA)为此拉响了警报,并启动了一项寻找新芯片技术的计划。
当时就职于加州大学伯克利分校电气工程与计算机科学的胡正明教授欣然接受了这一挑战。他立即想到了一个方案(实际上是两个解决方案),并在几天后乘坐飞机的途中做出设计草图。其中一个想法是,升高电流流过的通道,使其凸出芯片表面,成为鳍式场效应晶体管(FinFET)。该技术为他赢得了今年的IEEE荣誉勋章,“在半导体模型开发和应用方面成就卓越,特别是3D结构设计,使摩尔定律又延续了几十年。”
在大学的最后一年,胡正明发现了这个他后来将要撼动的行业,这要归功于当时来自美国的客座教授弗兰克•方(Frank Fang)。“那是1968年,”胡正明回忆道,“他告诉我们半导体将成为未来电视机的材料,电视机可以像照片一样挂在墙上。”
20世纪80年代初,重返半导体研究领域被证明是件好事。当时政府对能源研究的资助已近枯竭,但旧金山湾区的许多企业都支持半导体研究。胡正明认为,获得转让合作经费“并不困难”。他开始在距离伯克利不远的硅谷投入时间,受一些企业的邀请,讲授半导体设备的短期课程。1982年,他整个学术假期都在硅谷中心的圣克拉拉国家半导体公司度过。
场效应晶体管有4个部分——1个源极、1个漏极、一个连接这两者的导电通道和一个控制沿通道电流的栅极。由于这些器件被做得更小,人们开始注意到晶体管的性能随着长期使用在改变。这一改变在短期测试中无法显现,企业也很难预测。
1983年,胡正明读到了IBM研究人员发表的一篇论文,其中就描述了这一挑战。在美国国家半导体公司工作了一段时间后,他意识到缺乏长期可靠性可能会给行业带来各种问题。如果没有在基层一线的工作经历,他说:“我就不会知道这个问题的重要性,也就不会花费近10年的时间来研究它。”
胡正明认为根本问题非常清晰——把通道做得非常窄,就可以阻止电子从栅极溜过。迄今为止,解决方案一直包括做薄栅极的氧化层,使栅极可以更好地控制通道,减少电流的泄漏。但胡正明在可靠性方面的研究表明,这种方法也可能接近极限:如果氧化层太薄,电子便会跳过氧化层进入硅衬底,形成另一个泄漏源。
胡正明认为对半导体器件特性的可视化是相当重要的,罗森鲍姆回忆起有一次,为了让学生弄懂一个过程,他用自己孩子的培乐多玩具搭建了一个MOS晶体管特性的模型。
2000年,在为期4年的资助结束时,胡正明及其团队研制出可工作的器件并发表了他们的研究成果,立即引起了业界广泛的关注。然而,又经过了漫长的10年,2011年英特尔公司才首次将FinFET的芯片投入生产线。为什么会这么久?
自从胡正明回到伯克利后,FinFET技术席卷了整个行业。尽管人们依旧还在预言摩尔定律的终结,但它并未止步于25纳米。
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