一眼识破藏在半导体内部的“渣物质”

2020-06-12 14:00:35 来源: 半导体行业观察

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报告简介

红外和拉曼光谱技术一直是高分子、半导体领域样本的重要测试手段。但随着科研更精细化、直观化的需求提升，传统红外与拉曼技术逐渐无法满足先进材料研发中的表征需求，包括高分子微球的甄别、纤维材料的高难度表征、半导体微区失效的原因检测等测试都对传统光谱技术提出了巨大挑战，一种全新的技术和方法出现了。

您，是否因传统红外空间分辨率过低而无法测试？

您，是否因待测样品的交叉污染而功亏一篑？

您，是否对单一的点光谱检测模式索然无味？

您，是否对角落/缝隙位置的“渣物质”束手无策？

您，是否准备好，迎接同时拥有高分辨、非接触、多模式检测、快速联用的红外拉曼系统？

我们在这里等您！在本报告中，我们将介绍全新一代非接触式亚微米级红外拉曼同步测量系统mIRage，以及该系统所使用的光学光热共振红外技术（O-PTIR）和相关研究最新进展。mIRage凭借着更丰富的红外-拉曼交叉信息，更精确的高空间分辨率的观测（~500nm），非接触模式带来的更便捷、快速测量，以及高光谱+特定波长的成像功能，对红外光谱这种传统的测试手段进行了重新定义。同时，在报告中将向大家分享近年来在国内外的最新应用，案例主要包括高分子、纤维材料以及半导体污染检测等领域的应用。