[原创] 芯片测试老将Advantest派新兵

2018-08-23 14:00:09 来源: 半导体行业观察

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现今的电子半导体市场，数字化转型快速成长，随著全球数据量急剧增加，终端应用领域对于半导体技术的要求亦呈指数增长，过去简单的电子技术就可以满足的需求，如今可能需要人工智能、机器学习、无人驾驶、医疗仪器、基础设施扩建等多元覆盖实现。因此，半导体元器件必须具备极高的可靠性，需要通过严谨的系列测试后，方可应用在各类消费性产品与工业设备中。这些都对半导体测试提出了更高的要求。

在半导体测试领域，来自日本的爱德万测试 (Advantest)一直都是一支重要的力量。该公司创立于1954年，其核心产品——自动化测试设备（ATE），广泛应用于检测芯片性能，确认其是否能在实际操作中达到理想状态并实现零故障。

半导体测试是爱德万的核心业务，其主要分为存储器测试和SoC测试两大版块。2017年，该公司的半导体测试系统在全球市场的占有率为33.2%，而在细分领域，其存储器测试系统的全球市场份额达到47.1%，SoC测试系统为30.7%。近些年，随着中国半导体产业的快速发展，以及市场的壮大，爱德万在中国的业务也是水涨船高。据悉，其在中国大陆的业务量已经连续两年排在该公司的第三位，超过其在日本和欧洲的业务水平，仅次于其在中国台湾和韩国的销售额。除了开发并销售市场所需的半导体测试系统以外，爱德万还在开展一系列的线上和线下活动，旨在加强与产学研各界的沟通和联系，使得企业的技术和产品的影响力更加立体、深入，与此同时，也在探索多种多样服务模式。例如，该公司推出了爱德万测试大学（Advantest University），其中包括多项服务内容，如爱德万学院、AE/SE培训、全球客户培训、与大学/政府合作，以及技能认证等项目。此外，该公司还推出了一项名为爱德万测试开发者大会（VOICE）的活动。据悉，VOICE 2018已经于今年5月，分别在美国硅谷和中国台湾的新竹举行，期间，有来自全球13个国家和地区的28家公司发表了论文。在硅谷，有276人参加了大会，在新竹则有289人参加。据悉，VOICE 2019将于明年5月，分别在美国和新加坡举行。近期，针对固态硬盘SSD存储和电源/模拟芯片测试，爱德万推出了一系列新品，下面就来看一下这些解决方案具体情况。

PCIe Gen 4 SSD测试方案：MPT3000

MPT3000是完全集成的固态硬盘测试解决方案，可以用于开发、调试以及量产PCIe Gen 4固态驱动器SSD，MPT3000平台也可以同时兼容PCIe Gen 3、SATA和SAS 等协议的固态硬盘的测试开发以及量产。这样，SSD制造商可以加快其新产品上市的时间。 MPT3000平台现在可以覆盖PCIe Gen 4设备的所有测试需求——从支持工程使用的MPT3000ES，到支持可靠性验证测试（RDT）的MPT3000ENV，再到支持量产的MPT3000HVM，用户可以在MPT3000上直接开发PCIE Gen 4，而不用等待第三方提供测试方案。它向用户提供了一套从设计到制造的测试流程，并使用与爱德万测试已经投入市场的 PCIe Gen 3解决方案相同的测试架构和软件，从而简化了向下一代产品升级的过程。爱德万测试系统级测试副总裁Colin Ritchie表示：“为了解决各种各样的固态硬盘协议和形式因素问题，我们提供了模块化的MPT3000平台，可以验证和测试最新一代的PCIe存储器。在这种高度灵活的测试系统中，每一个DUT（待测器件）独立测试架构和硬件加速使它成为一个单一的系统解决方案，可用于几乎所有的工程、批量生产和BIST（内置的自测试）应用程序。”

电源和模拟芯片测试新兵：V93000 FVI16

为满足汽车，工业和消费类移动充电用电源和模拟芯片的测试需求，爱德万推出了FVI16浮动电源VI板卡，该板卡搭载在V93000单一可扩展平台上，扩展了其性能，使用户可以自如应对不断发展的电动汽车和快充电器市场。通过提供250瓦的高脉冲功率和高达40瓦的直流电源，新的电源有助于提供足够的功率测试最新一代芯片，同时进行重复稳定的测量。与采用传统模拟反馈的其它测试系统相比，该系统的数字反馈回路设计提供了极佳的信号源，测量精度和模拟/功率性能。数字反馈技术提供多种独特功能，包括无毛刺的“智能连接”和恒定的开尔文监控，实现可靠的和高精度的测量。用户控制的斜率和带宽设置可以实现快速建立稳定时间，以适应各自的负载条件。 FVI16板卡具有高仪器通道密度，配置在爱德万测试 A-Class测试头内可以使其作为小型系统，从而降低了测试成本。具有四象限操作的16个通道允许在高电流测试中将每块板卡的通道并联到高达155安培。对于高压测试，每块板卡可以实现在+ 200伏的浮动范围内高达+ 180伏的串联。 FVI16专利集成的快速电流钳位可以保护负载板硬件，探针卡插针和DUT插座，以防设备损坏造成短路。用户可以使用新的FVI16将现有V93000 Smart Scale系统的功能扩展到更高的电压、更多的通道数和更大的功率，以满足高同测数的芯片测试需求，同时保持较低的测试成本。据悉，FVI16浮动电源VI板卡已在多个用户现场使用，并收到多家欧洲和日本的领先汽车电子用户的订单。

责任编辑：Sophie

ATE 爱德万测试

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: 半导体行业观察

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