芯动力人才发展计划——名家芯思维:先进测试技术暨第56期国际名家讲堂
名家芯思维: 先进测试技术
暨第56期国际名家讲堂
预告
2017年12月13日-16日
中国·南京
活动安排
1
芯动力人才发展计划—名家芯思维:
先进测试技术
(免注册费)
活动时间:2017年12月13日(下午)
活动地点: 南京明发珍珠泉大酒店
南京浦口区珍珠街178-1号
2
第56期国际名家讲堂
主题:数字集成电路的测试和可测试性设计
活动时间:2017年12月14-16日
活动地点: 南京明发珍珠泉大酒店
南京浦口区珍珠街178-1号
组织单位
主办单位
工业和信息化部人才交流中心(MIITEC)
比利时微电子研究中心(IMEC)
协办单位
江北新区IC智慧谷
江苏省半导体行业协会
南京江北新区人力资源服务产业园
中国半导体行业协会集成电路分会
南京市集成电路行业协会
南京集成电路产业服务中心
南京邮电大学南通研究院
支持媒体
IC咖啡、华强电子网、电子产品世界杂志社、
EETOP、光纤在线、半导体行业观察、
芯师爷、芯榜、半导体行业联盟、
半导体圈、镁客网、中国半导体论坛等
一、芯动力人才发展计划
名家芯思维: 先进测试技术
1.活动时间: 2017年12月13日(下午)
2.活动主题: 先进测试技术
3. 活动地点: 南京明发珍珠泉大酒店
(南京浦口区珍珠街178-1号)
4.活动目的:
交流测试相关行业最新科技成果,分享行业最新信息,探讨测试技术及可测试性设计的应用现状与未来发展趋势,国内外相关产业动态与方向、未来前景和需解决问题。
推进科技成果和市场资金的有机结合,促成科技成果产业化快速发展。促进平台搭建,深化产学研不同机构间的战略合作。
5.名家芯思维议程:
二、第五十六期国际名家讲堂
(主题:数字集成电路的测试和可测试性设计)
名家介绍
Erik Jan Marinissen
IMEC首席科学家
IEEE Fellow
计算机学会金核心成员
个人履历:
-
埃因霍芬理工大学计算机科学理科硕士学位;
-
软件技术工程学博士学位。
研究兴趣:
-
涵盖测试和微电子调试领域中的所有课题;
现职位:
-
IMEC首席科学家
所在机构及协会任职:
-
IEEE Std 1500的主编,IEEE P1838 on 3D test access的创始人和主席,研讨会“Diagnostic Services in Network-on-Chips”(DSNOC)、“3D Integration”、和“Testing of Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits”(3D-TEST)的创办人之一;
-
同时任职于众多会议的委员会,包括ATS、DATE、ETS、ITC、VTS、IEEE设计与测试编委会、IET电脑和数字技术编委会以及Springer的电子测试期刊:理论与应用(JETTA)编委会。
所获奖项:
-
2008年和2010年ITC的Most Significant Paper Awards;
-
2013年SWTW的Most Inspirational Presentation Award;
-
1995年Chrysler-Delco-Ford汽车电子可靠性研讨会最佳论文奖;
-
2002年IEEE国际电路板测试研讨会的最佳论文奖。
活动内容
Course title:Test and testable design of digital integrated circuits
-
Getting Started
进入课程
-
Introduction to IC Testing
介绍IC测试
-
Test Execution: Equipment & Flows
测试执行:设备和工艺流程
-
Defects and Faults
缺陷和故障
-
Automatic Test Pattern Generation (stuck-at, shorts, opens)
自动测试向量生成 (stuck-at, shorts, opens)
-
Scan Design
扫描设计
-
Memory Testing
存储测试
-
Diagnosis and Failure Analysis
诊断和故障分析
-
PCB Testing and Boundary Scan Design
印制板测试和边界扫描设计
-
Advanced Fault Models and Tests
先进的故障模型和测试
-
Testing for Shorts: VLV and IDDQ Testing
短裤测试:VLV和IDDQ测试
-
Delay Testing
时延测试
-
Strengthening Stuck-At Testing
加强测试
-
In-Field Defects: Reliability Issues and Soft Errors
现场缺陷:可靠性问题和软错误
-
Test Cost Reduction
降低测试成本
-
Modular (Core-Based) SOC Testing and IEEE Std 1500
模块化(Core-Based)SOC测试和IEEE Std 1500
-
Testing of 3D Stacked ICs and IEEE Std P1838
3D堆叠IC和IEEE Std P1838的测试
注册费用
第56期 注册费用: 5377 元/人;
第56期学生 注册费用: 3226 元/人;
名家芯思维: 先进测试技术 (免注册费)
注:
1.含面授费、场地费、资料费、午餐费;学员需自理交通、食宿等费用。
2.关注国家IC人才培养平台-点击“平台咨询”-“ Bonus Class III ” 可参与优惠活动。
国信艾麦克(北京)信息科技有限公司由中心和IMEC共同设立,为本期国际名家讲堂提供会务服务并开具发票,发票内容为培训费。请于2017年12月11日前将注册费汇至以下账户,并在汇款备注中注明款项信息(第56期+单位+参会人姓名)。
付款信息:
户 名: 国信 艾麦克(北京)信息科技有限公司
开户行: 工行北京万寿路南口支行
帐 号: 0200186409200051697
或携带银行卡至活动现场,现场支持 POS 机付款。
报名方式
报名截止日期: 2017年12月11日
报名方式:
1.微信报名
关注微信公众号“国家IC人才培养平台”(微信号:ICPlatform),并点击下方选项卡“ 在线注册-12月活动报名 ”填写相关信息。
扫描下方二维码即可进入报名页面
注: 提交报名表并交纳报名费后方视为报名成功。
2.邮件报名
报名回执表链接如下:
http://www.icplatform.cn/form
填写报名回执表并发送Word电子版至“国家IC人才培养平台”邮箱, 邮箱地址:icplatform@miitec.cn,
回执表文件名和邮件题目格式为:
“ 报名+第56期+单位名称+人数 ”
3.电话报名
张 欢 18262610717 025-69678210
4. 优惠政策
(1)“芯动力”合作单位享受价格优惠;详情请咨询产业合作组贺老师,电话:010-68208714 。
(2)针对高校推出Bonus ClassI II III优惠政策:
详情请编辑“ class ”发送至微信公众号“国家IC人才培养平台”。
住宿预订
酒店名称: 南京明发珍珠泉大酒店
南京浦口区珍珠街178-1号
标准双人房(含双早) 338 元/间
标准大床房(含单早) 338 元/间
预定方式 : 请需要预订酒店的学员在 12月11日12:00 前,联系酒店负责人张经理,预定时说明国际名家讲堂学员即可享受酒店协议价格。
预定酒店联系人:
张石橙 138 5178 2090
工业和信息化部人才交流中心
邢国华、汪晨
电 话:010-68208725;025-69640094
E-mail:icplatform@miitec.cn
工业和信息化部人才交流中心
2017年11月21日
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