芯动力人才发展计划——名家芯思维:先进测试技术暨第56期国际名家讲堂

2017-11-28 10:17:32 来源: 官方微信


名家芯思维: 先进测试技术

暨第56期国际名家讲堂

预告

2017年12月13日-16日

中国·南京


活动安排

1

芯动力人才发展计划—名家芯思维:

先进测试技术

(免注册费)

活动时间:2017年12月13日(下午)

活动地点: 南京明发珍珠泉大酒店

南京浦口区珍珠街178-1号

2

第56期国际名家讲堂

主题:数字集成电路的测试和可测试性设计

活动时间:2017年12月14-16日

活动地点: 南京明发珍珠泉大酒店

南京浦口区珍珠街178-1号

组织单位

主办单位

工业和信息化部人才交流中心(MIITEC)

比利时微电子研究中心(IMEC)

协办单位

江北新区IC智慧谷

江苏省半导体行业协会

南京江北新区人力资源服务产业园

中国半导体行业协会集成电路分会

南京市集成电路行业协会

南京集成电路产业服务中心

南京邮电大学南通研究院

支持媒体

IC咖啡、华强电子网、电子产品世界杂志社、

EETOP、光纤在线、半导体行业观察、

芯师爷、芯榜、半导体行业联盟、

半导体圈、镁客网、中国半导体论坛等


一、芯动力人才发展计划

名家芯思维: 先进测试技术

1.活动时间: 2017年12月13日(下午)

2.活动主题: 先进测试技术

3. 活动地点: 南京明发珍珠泉大酒店

(南京浦口区珍珠街178-1号)

4.活动目的:

交流测试相关行业最新科技成果,分享行业最新信息,探讨测试技术及可测试性设计的应用现状与未来发展趋势,国内外相关产业动态与方向、未来前景和需解决问题。

推进科技成果和市场资金的有机结合,促成科技成果产业化快速发展。促进平台搭建,深化产学研不同机构间的战略合作。

5.名家芯思维议程:


二、第五十六期国际名家讲堂

(主题:数字集成电路的测试和可测试性设计)

名家介绍


Erik Jan Marinissen

IMEC首席科学家

IEEE Fellow

计算机学会金核心成员

个人履历:

  1. 埃因霍芬理工大学计算机科学理科硕士学位;

  2. 软件技术工程学博士学位。

研究兴趣:

  1. 涵盖测试和微电子调试领域中的所有课题;

现职位:

  1. IMEC首席科学家

所在机构及协会任职:

  1. IEEE Std 1500的主编,IEEE P1838 on 3D test access的创始人和主席,研讨会“Diagnostic Services in Network-on-Chips”(DSNOC)、“3D Integration”、和“Testing of Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits”(3D-TEST)的创办人之一;

  2. 同时任职于众多会议的委员会,包括ATS、DATE、ETS、ITC、VTS、IEEE设计与测试编委会、IET电脑和数字技术编委会以及Springer的电子测试期刊:理论与应用(JETTA)编委会。

所获奖项:

  1. 2008年和2010年ITC的Most Significant Paper Awards;

  2. 2013年SWTW的Most Inspirational Presentation Award;

  3. 1995年Chrysler-Delco-Ford汽车电子可靠性研讨会最佳论文奖;

  4. 2002年IEEE国际电路板测试研讨会的最佳论文奖。

活动内容

Course title:Test and testable design of digital integrated circuits

  • Getting Started

    进入课程

  • Introduction to IC Testing

    介绍IC测试

  • Test Execution: Equipment & Flows

    测试执行:设备和工艺流程

  • Defects and Faults

    缺陷和故障

  • Automatic Test Pattern Generation (stuck-at, shorts, opens)

    自动测试向量生成 (stuck-at, shorts, opens)

  • Scan Design

    扫描设计

  • Memory Testing

    存储测试

  • Diagnosis and Failure Analysis

    诊断和故障分析

  • PCB Testing and Boundary Scan Design

    印制板测试和边界扫描设计

  • Advanced Fault Models and Tests

    先进的故障模型和测试

  • Testing for Shorts: VLV and IDDQ Testing

    短裤测试:VLV和IDDQ测试

  • Delay Testing

    时延测试

  • Strengthening Stuck-At Testing

    加强测试

  • In-Field Defects: Reliability Issues and Soft Errors

    现场缺陷:可靠性问题和软错误

  • Test Cost Reduction

    降低测试成本

  • Modular (Core-Based) SOC Testing and IEEE Std 1500

    模块化(Core-Based)SOC测试和IEEE Std 1500

  • Testing of 3D Stacked ICs and IEEE Std P1838

    3D堆叠IC和IEEE Std P1838的测试

注册费用

第56期 注册费用: 5377 元/人;

第56期学生 注册费用: 3226 元/人;

名家芯思维: 先进测试技术 (免注册费)

注:

1.含面授费、场地费、资料费、午餐费;学员需自理交通、食宿等费用。

2.关注国家IC人才培养平台-点击“平台咨询”-“ Bonus Class III 可参与优惠活动。

国信艾麦克(北京)信息科技有限公司由中心和IMEC共同设立,为本期国际名家讲堂提供会务服务并开具发票,发票内容为培训费。请于2017年12月11日前将注册费汇至以下账户,并在汇款备注中注明款项信息(第56期+单位+参会人姓名)。

付款信息:

户  名: 国信 艾麦克(北京)信息科技有限公司

开户行: 工行北京万寿路南口支行

帐  号: 0200186409200051697

或携带银行卡至活动现场,现场支持 POS 机付款。

报名方式

报名截止日期: 2017年12月11日

报名方式:

1.微信报名

关注微信公众号“国家IC人才培养平台”(微信号:ICPlatform),并点击下方选项卡“ 在线注册-12月活动报名 ”填写相关信息。

扫描下方二维码即可进入报名页面

注: 提交报名表并交纳报名费后方视为报名成功。

2.邮件报名

报名回执表链接如下:

http://www.icplatform.cn/form

填写报名回执表并发送Word电子版至“国家IC人才培养平台”邮箱, 邮箱地址:icplatform@miitec.cn,

回执表文件名和邮件题目格式为:

报名+第56期+单位名称+人数

3.电话报名

张    欢  18262610717   025-69678210

4. 优惠政策

(1)“芯动力”合作单位享受价格优惠;详情请咨询产业合作组贺老师,电话:010-68208714 。

(2)针对高校推出Bonus ClassI II III优惠政策:

详情请编辑“ class ”发送至微信公众号“国家IC人才培养平台”。

住宿预订

酒店名称: 南京明发珍珠泉大酒店

南京浦口区珍珠街178-1号

协议价格

标准双人房(含双早) 338 元/间

标准大床房(含单早) 338 元/间

预定方式 请需要预订酒店的学员在 12月11日12:00 前,联系酒店负责人张经理,预定时说明国际名家讲堂学员即可享受酒店协议价格。

预定酒店联系人:

张石橙  138 5178 2090

工业和信息化部人才交流中心

邢国华、汪晨

电   话:010-68208725;025-69640094

E-mail:icplatform@miitec.cn



工业和信息化部人才交流中心

2017年11月21日

责任编辑:官方微信

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