如何更好的解决半导体测试常见问题?
根据美国市场调查机构IC Insights的报告显示,中国的半导体市场内需规模已经达到1035亿美元,占世界半导体市场的36%,中国已成为世界最大的电子产品生产基地,半导体需求量也随之疯涨。随着半导体产业的疯狂发展,对于半导体测试测量技术的需求也越来越高,假如测试测量技术能够与产品生产和工艺发展共同进步,那么将会影响整个产业的平衡发展。
作为半导体测试测量行业的领先企业之一,泰克一直致力于推进半导体测试测量行业的发展,为众多工程师与客户提供质量更好,精度更高的测试测量工具。
近日,泰克推出了一款电子指南, 主要内容为简化MOSFET和MOSCAP器件的特性分析,涉及相关工具和技术的相关问题。(点击文末阅读原文,下载完整电子指南)
本电子指南解答了有关如何更好的进行半导体测量的常见问题,重点解释 DC I-V 和电容 – 电压 (C-V) 测量。 同时还介绍了更加具体的应用,及如何简化最具挑战测 量的的应用要求。
本电子指南主要包括如下内容:
1.半导体特性分析挑战
2.我知道低电平 DC 测量中有误差,但怎样识别和消除这些误差呢?
3.我的 AC 阻抗测量呢?我怎样诊断和校正误差?
4.在 MOSFET 和 MOScaps 上进行 DC 测量时怎样使误差达到最小?
5.在 MOSFETs 和 MOScaps 上进行常见 C-V 测量有哪些最佳惯例?
6. 在我不得不重新配置探头站从DC I-V测量切换到C-V测量时,我开始遇到测量问题, 为什么这么复杂?那么我怎样进行连接?我怎样控制这个开关?
7.我的实验室预算真的有限。我怎样进行这些测量,既采用最佳惯例,而又不用花太多的钱?
8. 我在哪里可以进一步了解怎样处理半导体特性分析挑战?
点击“阅读原文”,下载完整版电子指南
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